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微米级别缺陷检测分析利器 | 超声显微镜

微米级别缺陷检测分析利器 | 超声显微镜

超声显微镜（SAM）是一种利用高频超声波探测样品内部结构的无损检测设备‌。其原理基于压电换能器发射超声波，经声学透镜聚焦后通过耦合介质（如水）传递至样品，通过接收反射/透射信号生成图像，可分层显示微米级缺陷（如分层、裂纹、空洞等）‌。

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NDT.net 中国特检院远东无损检测资讯网中国特种设备行业协会机械工程学会无损检测分会